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    高低溫試驗箱GB/T 2424是由以下環(huán)境試驗導則組成：

    GB/T 2424.1-2005  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  高溫低溫試驗導則。

    GB/T 2424.2-1993  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  濕熱試驗導則。

    GB/T 2424.10-1993  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  大氣腐蝕加速試驗的通用導則。

    GB/T 2424.11-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則。

    GB/T 2424.12-1982  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  接觸點和連接件的硫化氫試驗導則。

    GB/T 2424.13-2002  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程  第2部分：試驗方法  溫度變化試驗導則。

    GB/T 2424.14-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  太陽輻射試驗導則。

    GB/T 2424.15-1992  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  溫度試驗導則。

    GB/T 2424.17-1995  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗  錫焊試驗導則。

    GB/T 2424.19-2005  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  模擬貯存影響的環(huán)境試驗導則。

    GB/T 2424.20-1985  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  潤濕稱量法可焊性試驗導則。

    GB/T 2424.21-1984  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  傾斜和搖擺試驗導則。

    GB/T 2424.22-1986  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  溫度（低溫、高溫）綜合試驗導則。

    GB/T 2424.23-1990  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  水試驗導則。

    GB/T 2424.24-1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  溫度（低溫、高溫）綜合試驗導則。

    以上便是高低溫試驗箱GB/T 2424.24的環(huán)境試驗導則，希望對廣大客戶有所幫助。